[發明專利]老化爐和老化方法有效
| 申請號: | 201110354697.9 | 申請日: | 2011-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN102645776A | 公開(公告)日: | 2012-08-22 |
| 發明(設計)人: | 楊建磊;蔡光源;王潔 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1333 | 分類號: | G02F1/1333;G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 羅建民;陳源 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 老化 方法 | ||
技術領域
本發明涉及液晶顯示技術,特別涉及一種老化爐和老化方法。
背景技術
液晶顯示器是目前常用的平板顯示器,其中薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display,簡稱:TFT-LCD)是液晶顯示器中的主流產品。
液晶顯示面板是液晶顯示器的重要部件,液晶顯示面板在組裝完成之后,需要進行老化處理。通常采用老化爐對液晶顯示面板進行老化處理。
現有技術中,老化爐通常采用單一的爐體結構,即:老化爐僅包括單一的爐體,該爐體可以對批量的液晶顯示面板進行老化處理。但是,由于現有技術中的老化爐僅具備單一的爐體,因此其僅具備對液晶顯示面板進行老化處理的功能,而無法對老化處理過程中的液晶顯示面板進行老化測試。
發明內容
本發明提供一種老化爐和老化方法,用以使老化爐實現對老化處理過程中的液晶顯示面板進行老化測試。
為實現上述目的,本發明提供一種老化爐,包括:保溫室、加熱器、溫控裝置和至少一個爐體,所述爐體與所述保溫室連通,所述加熱器用于對所述保溫室進行加熱以使所述保溫室的溫度為測試溫度,所述溫控裝置用于對所述保溫室的溫度進行測量并根據測量結果控制所述加熱器工作以使所述保溫室的溫度為所述測試溫度,所述爐體用于對液晶顯示面板進行老化處理,所述保溫室用于在所述測試溫度下對老化處理過程中的所述液晶顯示面板進行老化測試。
進一步地,所述測試溫度為老化溫度,所述老化溫度為所述爐體對所述液晶顯示面板進行老化處理時的溫度。
進一步地,所述加熱器位于所述保溫室內。
進一步地,所述溫控裝置位于所述保溫室內。
進一步地,所述保溫室由保溫板圍設而成。
進一步地,所述保溫室的一側開設有保溫門,所述保溫門用于當所述保溫室在所述測試溫度下對老化處理過程中的所述液晶顯示面板進行老化測試時關閉。
進一步地,所述爐體內設置有用于承載所述液晶顯示面板的面板架,當所述保溫室對老化處理過程中的所述液晶顯示面板進行老化測試時將所述面板架從所述爐體內拉出使所述面板架位于所述保溫室內。
進一步地,所述爐體的數量為兩個,兩個所述爐體相對設置于所述保溫室的兩側。
為實現上述目的,本發明還提供了一種老化方法,所述方法基于老化爐,所述老化爐包括:保溫室、加熱器、溫控裝置和至少一個爐體,所述爐體與所述保溫室連通,所述加熱器用于對所述保溫室進行加熱以使所述保溫室的溫度為測試溫度,所述溫控裝置用于對所述保溫室的溫度進行測量并根據測量結果控制所述加熱器工作以使所述保溫室的溫度為所述測試溫度;
所述方法包括:
所述爐體對液晶顯示面板進行老化處理;
所述保溫室在測試溫度下對老化處理過程中的所述液晶顯示面板進行老化測試。
進一步地,所述測試溫度為老化溫度,所述老化溫度為所述爐體對所述液晶顯示面板進行老化處理時的溫度。
本發明具有以下有益效果:
本發明提供的老化爐和老化方法,包括保溫室、加熱器、溫控裝置和至少一個爐體,爐體與保溫室連通,加熱器用于對保溫室進行加熱以使保溫室的溫度為測試溫度,溫控裝置用于對保溫室的溫度進行測量并根據測量結果控制加熱器工作以使保溫室的溫度為測試溫度,爐體用于對液晶顯示面板進行老化處理,保溫室用于在測試溫度下對老化處理過程中的液晶顯示面板進行老化測試,從而使老化爐通過保溫室實現了對老化處理過程中的液晶顯示面板進行老化測試。
附圖說明
圖1為本發明實施例一提供的一種老化爐的結構示意圖;
圖2為本發明實施例二提供的一種老化方法的流程圖;
圖3為本發明中老化方法的示意圖之一;
圖4為本發明中老化方法的示意圖之二。
具體實施方式
為使本領域的技術人員更好地理解本發明的技術方案,下面結合附圖對本發明提供的老化爐和老化方法進行詳細描述。
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