技術領域

本發明涉及一種重心測量裝置及重心測量方法。

背景技術

在電子產品（如電腦）的研發階段，需要對電子產品的重心進行測量，以便在進行機構和包材設計時能更準確地將重心部位的機構和包材加強。但如何才能準確、便捷地找到電子產品的重心已成為研發人員急需解決的難題。

發明內容

鑒于上述內容，有必要提供一種能準確找到電子產品重心的重心測量裝置。

還有必要提供一種應用于所述重心測量裝置的重心測量方法。

一種重心測量裝置，包括一測試平臺及一控制顯示儀，所述測試平臺上設有三個支撐元件及一標記筆，每一支撐元件上設有一傳感器，所述三個支撐元件在所述測試平臺上的位置位于一等邊三角形的三個頂點上，所述標記筆在所述測試平臺上的位置位于所述等邊三角形的中心，所述控制顯示儀包括三個處理模塊、一中央處理器及一顯示屏，每一處理模塊與一傳感器相連，所述中央處理器與所述三個處理模塊及所述顯示屏相連，每一傳感器用于感測對應的支撐元件支撐一待測物時所承受的壓力，并將感測到的信號輸出給對應的處理模塊，每一處理模塊用于對接收到的信號進行放大濾波及模數轉換處理，并將處理后的信號輸出給所述中央處理器，所述中央處理器用于控制所述顯示屏顯示接收到的信號的數值，并用于比較接收到的信號的數值是否相等，且在接收到的信號的數值相等時控制所述標記筆在所述待測物與所述三個支撐元件的接觸面上標出標記點，分別標記所述待測物兩相交接觸面的標記點，由兩相交接觸面的標記點分別得到所述兩接觸面的垂線，所述兩垂線的交點即為所述待測物的重心。

一種重心測量方法，包括以下步驟：

a.?將待測物置于測試平臺，以使所述待測物的第一面接觸所述測試平臺上的三個支撐元件上的三個傳感器；

b.?感測每一支撐元件所承受的壓力，并對感測到的信號進行放大濾波及模數轉換處理；

c.?顯示處理后的信號的數值；

d.?判斷處理后的信號的數值是否相等;

e.?當處理后的信號的數值不等時，調整所述待測物與所述三個傳感器的接觸面與所述三個傳感器的接觸位置，并返回步驟b；

f.?當處理后的信號的數值相等時，控制所述測試平臺上的標記筆在所述待測物與所述三個傳感器的接觸面上標出一標記點；

g.?將所述待測物置于所述測試平臺，以使所述待測物的與所述第一面相交的第二面接觸所述三個傳感器，再執行步驟b-f得到所述第二面上的標記點；

h.?由所述第一面的標記點得到所述第一面的垂線，由所述第二面的標記點得到所述第二面的垂線，所述兩垂線的交點即為所述待測物的重心。

本發明重心測量裝置及重心測量方法通過將所述支撐元件及標記筆設于所述測試平臺的特定位置，并通過所述傳感器來感測每一支撐元件承受的壓力，且通過所述中央處理器來比較感測到的壓力是否相等，并在感測到的壓力相等時控制所述標記筆在所述待測物上標出標記點，從而使研發人員能準確、便捷地找到電子產品的重心。

附圖說明

下面參照附圖結合較佳實施方式對本發明作進一步詳細描述：

圖1為本發明重心測量裝置較佳實施方式的示意圖。

圖2為本發明重心測量裝置的控制電路的方框圖。

圖3為本發明重心測量裝置的測試平臺的俯視圖。

圖4為本發明重心測量方法較佳實施方式的流程圖。

主要元件符號說明