[發明專利]一種基于特征磁導率的應力集中和疲勞損傷的檢測評價方法在審
| 申請號: | 201110306587.5 | 申請日: | 2011-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN102435666A | 公開(公告)日: | 2012-05-02 |
| 發明(設計)人: | 任尚坤 | 申請(專利權)人: | 南昌航空大學 |
| 主分類號: | G01N27/72 | 分類號: | G01N27/72;G01N27/83 |
| 代理公司: | 南昌洪達專利事務所 36111 | 代理人: | 劉凌峰 |
| 地址: | 330000 江西省*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 特征 磁導率 應力 集中 疲勞 損傷 檢測 評價 方法 | ||
1.??一種基于特征磁導率的應力集中和疲勞損傷的檢測評價方法,該檢測方法的特征在于利用最大的微分磁導率來檢測鐵磁試件對應的微觀結構特征量的變化。
2.?如權利要求1所述的基于特征磁導率的應力集中和疲勞損傷的檢測評價方法,其特征是其檢測原理是:應力集中和疲勞損傷引起鐵磁試件微觀結構的變化,晶格點陣位移及缺陷位錯導致微分磁導率發生變化,通過測定特征磁導率的變化推斷反演鐵磁構件的應力集中和疲勞損傷程度。
3.?如權利要求1所述的基于特征磁導率的應力集中和疲勞損傷的檢測評價方法,其特征是檢測特征為:依據測量低場磁致回線的系列數據,得到低場磁致回線對應的微分磁導率陣列,利用微分磁導率陣列中最大的矩陣元來檢測相關的微觀結構量的變化。
4.???如權利要求1所述的基于特征磁導率的應力集中和疲勞損傷的檢測評價方法,其特征是該檢測方法的基本觀點是:鐵磁材料技術磁化過程與微觀結構參量的變化有關;低場的技術磁化過程反映微觀結構參量的變化具有更高的檢測靈敏度;低場磁化的微分磁導率是磁場強度的函數,同時也是最大磁場強度的函數;檢測具體的微觀結構量的變化,將依據與具體的磁場強度和最大磁場強度對應的特征微分磁化率。
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