[發明專利]一種測試方法及裝置在審
| 申請號: | 201110203450.7 | 申請日: | 2011-07-20 |
| 公開(公告)號: | CN102354297A | 公開(公告)日: | 2012-02-15 |
| 發明(設計)人: | 劉宗昌;樊志強;陳曉;李素林 | 申請(專利權)人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及計算機及測試技術領域,特別涉及一種測試方法及裝置。
背景技術
軟件系統測試,一般會通過設計測試用例來覆蓋待測功能點。一個測試用例可能涉及到多個場景,這些場景是由不同的參數組合得到的,通過觸發軟件系統內部的不同功能事件,從而產生在相應測試場景中的測試結果。測試場景的生成,一般是通過對場景參數進行笛卡爾積運算得到。
假設參數集合A={a1,a2},參數集合B=P{b1,b2,b3,b4},則場景參數的笛卡爾積為{(a1,b1),(a1,b2),(a1,b3),(a1,b4),(a2,b1),(a2,b2),(a2,b3),(a2,b4)}。
可以看出,這種對場景參數進行笛卡爾積計算的過程,得到的是測試場景組合的全集,是對測試用例的一個全面場景覆蓋。
但是,隨著場景參數的增加,笛卡爾積運算得到的測試場景組合也會迅速膨脹。為了控制測試規模以有效進行測試,通用的方法就是從測試場景組合的全集中再篩選出部分測試場景組合,稱之為典型測試場景組合。
現有技術中有一些計算典型測試場景組合的工具,例如PICT(PairwiseIndependent?Combinatorial?Testing,雙獨立組合測試),其具體就是:把場景參數的集合按照約定格式寫成文件,例如該文件名為demo.txt,執行這個文件:pict?demo.txt,就可以計算出典型組合,并且可以通過指定壓縮比來表示該典型組合的規模。
另外還有一種正交矩陣方法(Orthogonal?Array,OA)來計算典型組合。其具體是定義一個正交矩陣,通過該正交矩陣來生成典型測試場景組合,比如定義一個正交矩陣實現從參數集合A、B中獲取典型測試場景組合的方法,其中A={a1,a2},B={b1,b2,b3,b4},如表1中所示:
表1
上述典型組合C1(1,1)表示取a1,b1;C2(1,2)表示取a1,b2,以此類推。通過這個正交矩陣也可以得到典型組合,并且可以通過定義正交矩陣行列數來控制典型組合的規模。
分析上述典型組合的生成過程,可以發現:
1、上述方法較為通用,但缺少對場景參數特性的考慮。比如PICT方法,針對場景參數A={a1,a2},B={b1,b2,b3,b4}與場景參數x={x1,x2},Y={y1,y2,y3,y4},其得到的典型組合序列是一樣的,而沒有考慮參數A、B與X、Y自身的特殊性。再比如OA方法,生成如表1中的結果,其生成的典型組合序列也是一樣的,沒有考慮參數自身的特殊性。
2、上述方法都是開環的,缺少對歷史經驗的考慮。比如,在第一輪測試中使用這一種組合,但是下一輪測試過程可能需根據歷史經驗對典型組合做了調整,然而上述方法卻無法考慮到這些過程。
發明內容
本發明實施例提供一種測試方法,用于根據歷史經驗進行測試,提高測試準確性。
一種測試方法,包括以下步驟:
獲取測試用例、與所述測試用例相關的場景參數、與所述測試用例相關的規則參數及其取值;
根據獲取的信息生成典型測試場景組合;
分別生成所述測試用例在各典型場景組合中的執行實例;
分別執行所述執行實例,根據執行結果更新相應規則參數的取值。
一種測試裝置,包括:
獲取裝置,用于獲取測試用例、與所述測試用例相關的場景參數、與所述測試用例相關的規則參數及其取值;
生成模塊,用于根據獲取的信息生成典型測試場景組合,及分別生成所述測試用例在各典型場景組合中的執行實例;
執行模塊,用于分別執行所述執行實例,根據執行結果更新相應規則參數的取值。
本發明實施例中測試方法包括獲取測試用例、與所述測試用例相關的場景參數、與所述測試用例相關的規則參數及其取值;根據獲取的信息生成典型測試場景組合;分別生成所述測試用例在各典型場景組合中的執行實例;分別執行所述執行實例,根據執行結果更新相應規則參數的取值。根據從知識庫中獲取的相關規則生成測試場景組合,從而根據歷史經驗對生成的測試場景組合進行了調整,執行完畢測試用例后根據執行結果更新相應規則,以便下次測試時可以借鑒本次的歷史經驗。
附圖說明
圖1為本發明實施例中測試裝置的主要結構圖;
圖2為本發明實施例中測試方法的主要流程圖;
圖3為本發明實施例中對一測試用例第一輪測試的詳細流程圖;
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