[發(fā)明專利]對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的數(shù)據(jù)處理設(shè)備及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910307328.7 | 申請(qǐng)日: | 2009-09-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102024322A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘇旺丁;何瑞雄;洪永程 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G08C25/00 | 分類號(hào): | G08C25/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 串行 信號(hào) 進(jìn)行 測(cè)試 數(shù)據(jù)處理 設(shè)備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及方法,特別是涉及一種對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的數(shù)據(jù)處理設(shè)備及方法。
背景技術(shù)
目前,對(duì)電子裝置產(chǎn)生的串行信號(hào)的測(cè)試,需要人工操控測(cè)試過(guò)程。然,這種在人工操控下對(duì)電子裝置產(chǎn)生的串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的方案還存在如下問(wèn)題:
(1)串行信號(hào)波形解碼測(cè)試及串行信號(hào)完整性測(cè)試無(wú)法同時(shí)進(jìn)行,且測(cè)試需要花費(fèi)大量時(shí)間;
(2)電子裝置不同的串行信號(hào)接口常需要不同的測(cè)試儀器,測(cè)試繁瑣且花費(fèi)龐大;
(3)無(wú)法對(duì)大量串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試,影響測(cè)試結(jié)果的可信度;
(4)需要人工操控測(cè)試過(guò)程,影響測(cè)試結(jié)果的精度。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的數(shù)據(jù)處理設(shè)備,能夠自動(dòng)對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行波形解碼測(cè)試及完整性測(cè)試,以提高串行信號(hào)的測(cè)試效率、可信度和準(zhǔn)確度。
此外,有必要提供一種對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的方法,能夠自動(dòng)對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行波形解碼測(cè)試及完整性測(cè)試,以提高串行信號(hào)的測(cè)試效率、可信度和準(zhǔn)確度。
一種對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的數(shù)據(jù)處理設(shè)備,該數(shù)據(jù)處理設(shè)備包括測(cè)試參數(shù)設(shè)置模塊、串行信號(hào)獲取模塊、時(shí)鐘波形演算模塊、信號(hào)波形解碼模塊、信號(hào)完整性測(cè)試模塊及測(cè)試報(bào)告生成模塊。該測(cè)試參數(shù)設(shè)置模塊,用于設(shè)置串行信號(hào)測(cè)試參數(shù)。該串行信號(hào)獲取模塊,用于根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)逐一從串行信號(hào)生成裝置中獲取需測(cè)試的串行信號(hào)。該時(shí)鐘波形演算模塊,用于利用最小絕對(duì)差異算法解析獲得的串行信號(hào),以獲得標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘波形。該信號(hào)波形解碼模塊,用于根據(jù)獲得的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘波形對(duì)獲得的串行信號(hào)進(jìn)行波形解碼,以獲得串行信號(hào)的波形解碼數(shù),及根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)對(duì)獲得的波形解碼數(shù)進(jìn)行解析,以找出錯(cuò)誤的波形解碼數(shù)位元。該信號(hào)完整性測(cè)試模塊,用于根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)對(duì)獲得的串行信號(hào)進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試,以找出獲得的串行信號(hào)的不滿足要求的屬性數(shù)據(jù)。該測(cè)試報(bào)告生成模塊,用于根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)判斷所有需測(cè)試的串行信號(hào)類型是否都已測(cè)試完畢,及在所有需測(cè)試的串行信號(hào)類型都已測(cè)試完畢時(shí)生成測(cè)試結(jié)果報(bào)告。
一種對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的方法,該方法包括步驟:(a)設(shè)置串行信號(hào)測(cè)試參數(shù);(b)根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)逐一從串行信號(hào)生成裝置中獲取需測(cè)試的串行信號(hào);(c)利用最小絕對(duì)差異算法解析獲得的串行信號(hào),以獲得標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘波形;(d)根據(jù)獲得的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘波形對(duì)獲得的串行信號(hào)進(jìn)行波形解碼,以獲得串行信號(hào)的波形解碼數(shù);(e)根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)對(duì)獲得的波形解碼數(shù)進(jìn)行解析,以找出錯(cuò)誤的波形解碼數(shù)位元;(f)根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)對(duì)獲得的串行信號(hào)進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試,以找出獲得的串行信號(hào)的不滿足要求的屬性數(shù)據(jù);及(g)根據(jù)設(shè)置的測(cè)試參數(shù)判斷所有需測(cè)試的串行信號(hào)類型是否都已測(cè)試完畢,及在所有需測(cè)試的串行信號(hào)類型都已測(cè)試完畢時(shí)生成測(cè)試結(jié)果報(bào)告。
相較現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明通過(guò)嵌入的串行信號(hào)自動(dòng)獲取程序,自動(dòng)從串行信號(hào)生成裝置的各個(gè)串行信號(hào)輸出接口獲取串行信號(hào),通過(guò)嵌入的串行信號(hào)波形解碼測(cè)試程序及串行信號(hào)完整性測(cè)試程序,自動(dòng)對(duì)串行信號(hào)進(jìn)行波形解碼測(cè)試及完整性測(cè)試,通過(guò)嵌入的串行信號(hào)測(cè)試自循環(huán)程序,自動(dòng)對(duì)多個(gè)串行信號(hào)進(jìn)行循環(huán)測(cè)試,提高了提高串行信號(hào)的測(cè)試效率、可信度和準(zhǔn)確度。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境圖。
圖2是圖1中串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)的功能模塊圖。
圖3是本發(fā)明串行信號(hào)測(cè)試方法較佳實(shí)施例的具體實(shí)施流程圖。
圖4是本發(fā)明串行信號(hào)波形圖顯示界面示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示,是本發(fā)明串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境圖。該串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)12運(yùn)行于串行信號(hào)測(cè)試裝置1中。該串行信號(hào)測(cè)試裝置1還包括處理器10、存儲(chǔ)器11及顯示器15。在本實(shí)施例中,該顯示器15用于顯示串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)12激發(fā)的串行信號(hào)測(cè)試操作界面及串行信號(hào)波形圖顯示界面。該處理器10運(yùn)行該串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)12,以對(duì)串行信號(hào)生成裝置2的串行信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。
在本實(shí)施例中,該存儲(chǔ)器11用于存儲(chǔ)該串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)12及該串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)12的運(yùn)行數(shù)據(jù);在本發(fā)明的其他實(shí)施例中,該串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)12及該串行信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)12的運(yùn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在不同的存儲(chǔ)器中。所述運(yùn)行數(shù)據(jù)包括用于測(cè)試的測(cè)試參數(shù)及測(cè)試結(jié)果報(bào)告。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司,未經(jīng)鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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