[發明專利]用于檢查光學設備的裝置有效
| 申請號: | 200910260490.8 | 申請日: | 2003-02-21 |
| 公開(公告)號: | CN101793595A | 公開(公告)日: | 2010-08-04 |
| 發明(設計)人: | A·J·迪斯彭扎;M·F·維曼;K·H·吉爾斯;J·埃貝爾 | 申請(專利權)人: | 莊臣及莊臣視力保護公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 劉金鳳;蔣駿 |
| 地址: | 美國佛*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 檢查 光學 設備 裝置 | ||
(本申請是申請日為2003年2月21日、申請號為 200610115514.7、發明名稱為“用于檢查光學設備的方法和系統”的 專利申請的分案申請。)
相關申請
這個申請根據于2003年2月21日提交的題為“用于檢查光學設 備的方法和系統”的臨時申請U.S.序號60/359,074提出優先權要求。
發明領域
這個發明總體上涉及檢查光學設備或介質,如眼透鏡。更具體而 言,本發明涉及用于自動地檢查光學設備的這種系統以及涉及完好適 用在這種系統中的技術和程序。
在過去的幾年里,已經成功地開發出用于檢查眼透鏡,尤其是接 觸透鏡的自動化技術。這種技術被公開于例如于2001年12月29日提 交的U.S.專利5,500,732和U.S.專利申請序號09/751,875。
總體上,在這些技術中,可為紫外光、可見光、或激光的輻射被 導引通過透鏡以在象素陣列上形成圖象。表示陣列象素上輻射強度的 數字數據值被產生,且使用計算機來處理這些數據值以確定透鏡是否 具有任何不可接受的瑕疵或缺陷。具有這樣瑕疵或缺陷的任何透鏡于 是被加以識別且被拒絕。
許多這些技術在確保具有不可接受的瑕疵或缺陷的任何透鏡被拒 絕時是非常高效的。與此同時,這些技術有時拒絕可接受的透鏡,即 被稱為誤拒絕的結果。其原因之一是許多程序不能夠區分某些類型的 透鏡缺陷和可能出現在象素陣列上但并不是透鏡缺陷的其它特點。
當檢查系統探測出象素陣列上的一個特點、但不能夠確定那個特 點是透鏡缺陷還是另一個難區分的但卻可接受的特點時,所述透鏡被 拒絕。例如,對于幾個檢查技術,當透鏡被浸入在液體溶液中的同時 被加以檢查,并且區分透鏡中的孔(其是不可接受的)和那種液體溶 液中的泡(其并不是透鏡的缺陷)是非常困難的。結果是,由于液體 溶液中泡的緣故可接受的透鏡可被加以拒絕。
作為另一實例,對于現有技術的自動化透鏡檢查系統,區分具有 撕裂或孔的模制接觸透鏡與簡單地已經略微地從模段中被拔出的模制 接觸透鏡是非常困難的。進而詳細描述,通過在兩個塑料模段之間模 制一適宜的聚合體,接觸透鏡可例如如U.S.專利5,540,410所公開 的那樣被制作。在聚合體部分硬化之后,模段之一被從另一模段中拔 出以提供對透鏡的接近。
在這個過程中,當透鏡被制作時,在透鏡中可產生孔或撕裂。同 樣,當模段被拔分離時,透鏡可變成剝離,即透鏡的邊緣可從透鏡所 停留在的模段中略微拔出。對于自動化的檢查系統,區分剛剛略微從 模段中拔出的透鏡(其并不是透鏡的缺陷)與具有孔或被撕裂的透鏡 (其為透鏡缺陷)是非常困難的。由此,可接受的透鏡可被拒絕。
附圖的詳細說明
圖1是總體上示例可被用在本發明實踐中的透鏡檢查系統的方框 圖。
圖2示出圖1所示檢查系統的照明及成像子系統的部分。
圖3示出可被用來照明圖1和2系統中透鏡的光譜帶。
圖4示出在圖1和2系統中所生成、且利用第一光譜掩蔽技術的 透鏡圖象。
圖5是用于分析利用第一光譜掩蔽技術而生成的透鏡圖象的優選 程序流程圖。
分別類似于圖1和2的圖6和7示出也可被用于這個發明實踐中 的第二透鏡檢查系統。
圖8示例可被用來提供第二光譜掩蔽技術的濾光器元件,其可被 用來照明圖6和7的檢查系統中的透鏡。
圖9示出利用第二光譜掩蔽技術而生成的透鏡圖象。
本發明的目的
這個發明的目的是改善用于檢查光學設備的系統。本發明的另一 目的是降低自動化透鏡檢查系統中誤拒絕的百分比。
本發明另外一個目的是提供一種用于檢查光學設備的自動化系 統,所述系統能夠更準確地識別某些特點。本發明的另一個目的是提 供一種自動化的透鏡檢查系統,所述系統具有改善的區分透鏡中孔與 透鏡所浸入的流體溶液中泡的能力。
這個發明的另一目的是以這樣的方式照明被浸入在液體中的透 鏡,以為了便利于區分透鏡中的孔與流體中的泡。本發明的另外一個 目的是提供一種圖象分析技術,所述技術可以區分眼透鏡中孔的圖象 與透鏡所浸入溶液中泡的圖象。這個發明的另一個目的是以這樣的方 式照明透鏡,以便于并不示出透鏡的剝離,而示出透鏡的孔和撕裂。
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