技術領域

本發明涉及一種夾具技術，特別是涉及一種PCBA校準夾具及其校準方法。

背景技術

在手機生產測試中，幾乎有的手機PCBA(Printed?Circuit?BoardAssembly，印刷線路板組件)出貨前，都要做校準測試。大多廠商對手機PCBA所使用的夾具，都是一個項目對應一種校準測試夾具；當新的項目一個又一個生產時，而PCBA射頻測試座方位以及PCBA尺寸有差異，老的項目所使用的夾具不能使用在新的項目上，那么校準測試夾具不得不重新設計，以至于成了廢品夾具，從而浪費了大量的人力成本和生產成本。

發明內容

本發明要解決的技術問題是為了克服現有技術的缺陷，提供一種PCBA校準夾具及其校準方法，提高生產效率并降低生產成本。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題的：一種PCBA校準夾具，其特征在于，其包括夾具框架、射頻頭調整板、PCBA尺寸調整板、綜測儀、射頻頭、射頻線和PCBA射頻測試接口，夾具框架是夾具的框架座，用來裝載PCBA尺寸調整板和射頻頭調整板，射頻頭調整板是用來調整射頻頭來對應PCBA的射頻測試座，PCBA尺寸調整板是用來調整PCBA的尺寸和固定PCBA，綜測儀是用于測試手機PCBA的射頻指數，綜測儀通過射頻線與射頻頭連接，PCBA射頻測試接口連接手機PCBA。

優選地，所述射頻線是用來作校準的傳輸介質。

優選地，所述射頻頭是用來校準測試連接PCBA射頻測試接口的連接頭。

優選地，所述射頻頭位于射頻頭調整板上。

本發明的另一技術方案為提供一種PCBA校準夾具的校準方法，其包括以下步驟：先把PCBA尺寸調整板安放在夾具框架中，并根據所測的PCBA調整尺寸并加以固定，再把射頻頭調整板上的射頻頭調整對應PCBA上的射頻測試座；當夾具下壓時與PCBA上的射頻測試座相對接，射頻頭通過射頻線與綜測儀相連，PCBA的射頻信號源由PCBA射頻測試接口到射頻頭，然后通過射頻線到綜測儀進行檢測。

本發明的積極進步效果在于：本發明能在手機生產中有效、快速得做好手機PCBA的校準測試；與傳統的技術相比，為廠商降低了生產成本并提高了生產效率。

附圖說明

圖1是整體夾具的結構示意圖；

圖2是夾具框架的結構示意圖；

圖3是PCBA尺寸調整板的結構示意圖；

圖4是射頻頭調整板的結構示意圖；

圖5是綜測儀、射頻頭、射頻線、PCBA尺寸調整板連接的示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖給出本發明較佳實施例，以詳細說明本發明的技術方案。

如圖1所示，本發明的PCBA校準夾具包括：夾具框架1、射頻頭調整板2、PCBA尺寸調整板3、綜測儀、射頻頭及其射頻線等。如圖2所示，其中夾具框架是夾具的框架座，用來裝載PCBA尺寸調整板、射頻頭調整板。另外也可根據特殊項目的PCBA更換PCBA尺寸調整板；如圖3所示，PCBA尺寸調整板是用來調整PCBA的尺寸，固定PCBA；如圖4所示，射頻頭調整板是用來調整射頻頭來對應PCBA的射頻測試座；如圖5所示，綜測儀4是用于測試手機PCBA的射頻指數，綜測儀4通過射頻線5與射頻頭6連接，射頻線5是用來作校準的傳輸介質，射頻頭6是用來校準測試連接PCBA射頻測試接口7的連接頭，射頻頭6位于射頻頭調整板上，PCBA射頻測試接口7用于連接手機PCBA8。

由于器件不一致、溫度變化、器件老化等因素的影響，即使是基于同樣的平臺同樣的設計，也會表現出不同的電性能。為了消除這種影響，每個手機在出廠之前都要對這些參數進行測量計算得到一些參數誤差數據，并把這些誤差數據存儲到一定的存儲介質(一般為EEPROM，電子式可清除程序化只讀存儲器)里，在手機正常使用過程中，CPU會讀取這些數據并利用一定的算法對需要補償的參數進行補償。在生產測試過程中，對需要補償校正的數據測量計算并存入EEPROM里的過程，稱之為校準。

使用上述PCBA校準夾具的校準方法具體包括以下步驟：在校準測試時，先把PCBA尺寸調整板安放在夾具框架中，并根據所測的PCBA調整尺寸并加以固定，再把射頻頭調整板上的射頻頭調整對應PCBA上的射頻測試座，當夾具下壓時與PCBA上的射頻測試座相對接，射頻頭通過射頻線與綜測儀相連，PCBA的射頻信號源由PCBA射頻測試接口到射頻頭，然后通過射頻線到綜測儀進行檢測。

雖然以上描述了本發明的具體實施方式，但是本領域的技術人員應當理解，這些僅是舉例說明，在不背離本發明的原理和實質的前提下，可以對這些實施方式做出多種變更或修改。因此，本發明的保護范圍由所附權利要求書限定。