1.一種半導體組件測試裝置，用以測試一測試組件陣列，該測試組件陣 列包含相互交錯的多個行與多個列，其特征在于該半導體組件測試裝置包含：

一第一測試電路，傳送一時序信號、一輸入指令信號與一數據信號至該 測試組件陣列中的至少一行；以及

一第二測試電路，傳送一選擇信號至該測試組件陣列中的至少一列，

該測試組件陣列的該至少一行包含一第一測試組件與一第二測試組件， 其中該時序信號與該輸入指令信號到達該第一測試組件與該第二測試組件的 時間差等于該數據信號達該第一測試組件與該第二測試組件的時間差。

2.如權利要求1所述的半導體組件測試裝置，其特征在于該時序信號分 為一前緣周期信號與一后緣周期信號。

3.如權利要求2所述的半導體組件測試裝置，其特征在于該數據信號分 為一設定信號與一保持信號，而其中該前緣周期信號與該設定信號到達該第 一測試組件的時間差與該前緣周期信號與該設定信號到達該第二測試組件的 時間差相同。

4.如權利要求2所述的半導體組件測試裝置，其特征在于該輸入指令信 號進一步包含一地址信號或一控制信號。

5.如權利要求1所述的半導體組件測試裝置，其特征在于該測試組件陣 列為一靜態內存(SRAM)陣列、一動態內存(DRAM)陣列、一邏輯芯片(Logic?IC) 陣列或上述陣列所組合的一混合式芯片陣列。

6.一種測試一半導體組件陣列的方法，其特征在于該半導體組件陣列具 有相互交錯的多個行與多個列，而該測試方法包含：

傳送一時序信號、一輸入指令信號與一數據信號至該半導體組件陣列中 的至少一行；以及

傳送一選擇信號至該半導體組件陣列中的至少一列，

該測試組件陣列的該至少一行包含一第一測試組件與一第二測試組件， 該方法進一步包含：使得該時序信號與該輸入指令信號到達該第一測試組件 與該第二測試組件的時間差等于該數據信號達該第一測試組件與該第二測試 組件的時間差。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于該時序信號分為一前緣周期信 號與一后緣周期信號。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于該數據信號分為一設定信號與 一保持信號，該方法進一步包含：

使得該前緣周期信號與該設定信號到達該第一測試組件的時間差與該前 緣周期信號與該設定信號到達該第二測試組件的時間差相同。