1.一種裝置，其包括：

存儲(chǔ)器單元陣列，其包含目標(biāo)存儲(chǔ)器單元；

可操作以確定與所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元相關(guān)聯(lián)的降級(jí)參數(shù)的單位；及

控制單位，其可操作以將所提供的控制信號(hào)耦合到所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元，其中所述控制信號(hào)可至少部分地基于所述降級(jí)參數(shù)而調(diào)節(jié)。

2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述存儲(chǔ)器單元陣列包括NAND快閃陣列。

3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述存儲(chǔ)器單元陣列進(jìn)一步包含參考存儲(chǔ)器單元，且進(jìn)一步其中所述單位通過(guò)將所述參考存儲(chǔ)器單元的特性與所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元的特性進(jìn)行比較而確定所述降級(jí)參數(shù)。

4.如權(quán)利要求3所述的裝置，其中所述參考存儲(chǔ)器單元的特性包含所述參考存儲(chǔ)器單元中的裝置的跨導(dǎo)。

5.如權(quán)利要求4所述的裝置，其中所述降級(jí)參數(shù)包括所述參考存儲(chǔ)器單元與所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元之間的跨導(dǎo)差異。

6.如權(quán)利要求1所述的裝置，其中控制單位可操作以響應(yīng)于所述降級(jí)參數(shù)而改變所述控制信號(hào)的電壓。

7.如權(quán)利要求3所述的裝置，其中所述陣列進(jìn)一步包含與所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元相關(guān)聯(lián)的測(cè)試存儲(chǔ)器單元，所述單位

7、如權(quán)利要求3所述的裝置，其中所述陣列進(jìn)一步包含與所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元相關(guān)聯(lián)的測(cè)試存儲(chǔ)器單元，所述單位可操作以至少部分地基于所述測(cè)試存儲(chǔ)器單元的特性與所述參考存儲(chǔ)器單元的特性之間的比較而確定所述降級(jí)參數(shù)。

8.如權(quán)利要求7所述的裝置，其中所述存儲(chǔ)器單元陣列布置成多個(gè)列，所述陣列進(jìn)一步包含與所述多個(gè)列中的每一者相關(guān)聯(lián)的至少一個(gè)測(cè)試存儲(chǔ)器單元。

9.如權(quán)利要求8所述的裝置，其中所述單位進(jìn)一步可操作以通過(guò)將與特定列相關(guān)聯(lián)的所述測(cè)試存儲(chǔ)器單元的特性與所述參考存儲(chǔ)器單元的特性進(jìn)行比較而確定相應(yīng)列中的所有所述存儲(chǔ)器單元的所述降級(jí)參數(shù)。

10.如權(quán)利要求3所述的裝置，其中控制單位可操作以將擦除信號(hào)耦合到所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元而不將所述擦除信號(hào)耦合到所述參考存儲(chǔ)器單元。

11.如權(quán)利要求3所述的裝置，其中所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元可操作以隨著所述存儲(chǔ)器裝置被使用而降級(jí)，但所述參考存儲(chǔ)器單元并非可操作以隨著所述存儲(chǔ)器裝置被使用而如同所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元一樣顯著降級(jí)。

12.如權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述控制信號(hào)包括編程開始電壓、步進(jìn)電壓、讀取參考電壓及檢驗(yàn)參考電壓中的至少一者。

13.如權(quán)利要求1所述的裝置，其中所述控制單位可操作以至少部分地基于所述降級(jí)參數(shù)隨時(shí)間的改變而調(diào)節(jié)所述控制信號(hào)。

14.一種系統(tǒng)，其包括：

處理器；及

耦合到所述處理器的裝置，所述裝置包括：

存儲(chǔ)器單元陣列，其可操作以用從所述處理器接收及/或提供到所述處理器的數(shù)據(jù)而編程，所述存儲(chǔ)器單元陣列包含目標(biāo)存儲(chǔ)器單元；

可操作以確定與所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元相關(guān)聯(lián)的降級(jí)參數(shù)的單位；及

控制單位，其可操作以將所提供的控制信號(hào)耦合到所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元，其中所述控制信號(hào)可至少部分地基于所述降級(jí)參數(shù)而調(diào)節(jié)。

15.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器單元陣列進(jìn)一步包含參考存儲(chǔ)器單元，且進(jìn)一步其中所述單位通過(guò)將所述參考存儲(chǔ)器單元的特性與所述目標(biāo)存儲(chǔ)器單元的特性進(jìn)行比較而確定所述降級(jí)參數(shù)。

16.如權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，其中所述參考存儲(chǔ)器單元的特性包含所述參考存儲(chǔ)器單元中的裝置的跨導(dǎo)。

17.如權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，其中所述陣列進(jìn)一步包含與所述目標(biāo)單元相關(guān)聯(lián)的測(cè)試存儲(chǔ)器單元，測(cè)試單位可操作以至少部分地基于所述測(cè)試存儲(chǔ)器單元的特性與所述參考存儲(chǔ)器單元的特性之間的比較而確定所述降級(jí)參數(shù)。

18.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中控制單位可操作以響應(yīng)于所述降級(jí)參數(shù)而改變所述控制信號(hào)的電壓。

19.如權(quán)利要求17所述的系統(tǒng)，其中所述測(cè)試單位進(jìn)一步可操作以通過(guò)將與一列相關(guān)聯(lián)的所述測(cè)試存儲(chǔ)器單元的特性與所述參考存儲(chǔ)器單元的特性進(jìn)行比較而確定相應(yīng)列中的所有所述存儲(chǔ)器單元的所述降級(jí)參數(shù)。