[發明專利]測量自由感應衰減信號的方法和設備及其在分析中的應用有效
| 申請號: | 200810128528.1 | 申請日: | 2008-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN101328805A | 公開(公告)日: | 2008-12-24 |
| 發明(設計)人: | 克里什納默西·加尼森 | 申請(專利權)人: | 普拉德研究及開發股份有限公司 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00;G01V3/32 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 封新琴 |
| 地址: | 英屬維爾京*** | 國省代碼: | 維爾京群島;VG |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測量 自由 感應 衰減 信號 方法 設備 及其 分析 中的 應用 | ||
1.一種使用自由感應衰減信號測定樣區中的物質的特性的方法,所述自由感應衰減信號是用井下測井工具獲得的,該方法包括:?
使用所述井下測井工具在所述樣區感生靜態磁場;?
使用所述井下測井工具在所述樣區感生傾斜的射頻磁場,該傾斜的射頻磁場具有經選擇的參數,以使靜態磁場的不均勻度對自由感應衰減時間的影響最小化;使用所述井下測井工具檢測所述樣區的自由感應衰減信號;和?
使用所述自由感應衰減信號測量所述物質的特性。?
2.權利要求1的方法,還包括:?
感生傾斜的射頻磁場之后經過一段延遲時間后,在所述樣區感生再聚焦的射頻磁場;和?
檢測感生所述再聚焦的射頻磁場所產生的至少一個自旋回聲。?
3.權利要求2的方法,還包括:?
將感生再聚焦的射頻磁場和其后檢測自旋回聲重復選定次數。?
4.權利要求1的方法,其中所述傾斜的射頻磁場具有經選擇的參數,以使所述樣區中核的自旋以選定的第一角度重新取向。?
5.權利要求4的方法,其中所述選定的第一角度為90度。?
6.權利要求2的方法,其中所述再聚焦的射頻磁場具有經選擇的參數,以反轉所述樣區中的核自旋。?
7.權利要求3的方法,其中所述特性包括所述樣區中多孔介質的孔隙中的流體的橫向弛豫時間。?
8.權利要求3的方法,其中所述特性包括所述樣區中多孔介質的孔隙中的流體的自擴散常數。?
9.權利要求3的方法,其中所述特性包括所述樣區中多孔介質的孔隙中的流體的縱向弛豫時間。?
10.權利要求1的方法,其中所述特性包括多孔介質的孔隙的體積分數。?
11.權利要求1的方法,其中所述樣區設置在經地下鉆出的井筒的周圍地層中。?
12.權利要求1的方法,其中所述樣區設置在從地下地層采出的流體的選定區域中。?
13.一種使用自由感應衰減信號測定樣區中的物質的至少一種特性的方法,所述自由感應衰減信號是用井下測井工具獲得的,該方法包括:?
使用所述井下測井工具在所述樣區中感生靜態磁場;?
使用所述井下測井工具在所述樣區中感生傾斜的射頻磁場,所述傾斜的射頻磁場具有經選擇的參數,以使核磁自旋以選定的第一角度取向;?
經過一段延遲之后,使用所述井下測井工具在所述樣區中感生再取向的射頻磁場,所述再取向的射頻磁場具有經選擇的參數,以使磁自旋以選擇的第二角度重新取向并使靜態磁場的不均勻度對自由感應衰減時間的影響最小化;?
使用所述井下測井工具檢測所述樣區的自由感應衰減信號;?
使用所述井下測井工具重復感生再取向的射頻磁場和檢測自由感應衰減信號,以產生多個自由感應衰減信號;和?
由至少一個自由感應衰減信號測定至少一種特性。?
14.權利要求13的方法,其中所述傾斜的射頻磁場具有經選擇的參數,以反轉核磁自旋。?
15.權利要求13的方法,其中所述傾斜的射頻磁場包括多個飽和射頻磁場。?
16.權利要求13的方法,其中所述選擇的第二角度為10~40度。?
17.權利要求13的方法,還包括:?
由單個測量脈沖序列測定樣區中的物質的至少一種特性。?
18.權利要求13的方法,其中所述樣區設置在經地下鉆出的井筒的周圍地層中。?
19.權利要求13的方法,其中所述樣區設置在從地下地層采出的流體的選定區域。?
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