[發(fā)明專(zhuān)利]源氣體供給裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810095708.4 | 申請(qǐng)日: | 2008-04-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101294278A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許官善;李永浩;李炳一;張澤龍 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 泰拉半導(dǎo)體株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | C23C16/455 | 分類(lèi)號(hào): | C23C16/455 |
| 代理公司: | 永新專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 陳萍 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 韓國(guó);KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氣體 供給 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及在基于化學(xué)蒸鍍法的薄膜蒸鍍時(shí)調(diào)節(jié)固體燃料流量的源氣體供給裝置。更詳細(xì)地講,本發(fā)明涉及能夠抑制由于輸運(yùn)氣體而導(dǎo)致源物質(zhì)移動(dòng)到源物質(zhì)蒸發(fā)部的外部的源氣體供給裝置。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體元件和集成電路的制作中,使多種薄膜(Thin?film)蒸鍍。在薄膜蒸鍍方法中大體包括物理蒸鍍法(Physical?Vapor?Deposition;PVD)和化學(xué)蒸鍍法(Chemical?Vapor?Deposition;CVD)。
其中,化學(xué)蒸鍍法是使要蒸鍍的薄膜以氣體狀態(tài)移動(dòng)到晶片表面、且通過(guò)氣體的反應(yīng)使薄膜蒸鍍?cè)诒砻娴姆椒ǎ蚓哂锌梢酝ㄟ^(guò)材料的選擇使各種各樣的薄膜形成、可以通過(guò)比較簡(jiǎn)單的工序處理大量的工作的優(yōu)點(diǎn)而被廣泛使用。另外,化學(xué)蒸鍍法容易形成微細(xì)薄膜層,所以具有可以被應(yīng)用于諸如半導(dǎo)體元件的絕緣層和有源層、液晶顯示元件的透明電極、電發(fā)光顯示元件的發(fā)光層、以及保護(hù)層等眾多領(lǐng)域的優(yōu)點(diǎn)。
在化學(xué)蒸鍍法的情況下,蒸鍍壓力直接受到從供給要蒸鍍的薄膜物質(zhì)的原料的源氣體供給裝置所供給的源氣體的流量(即,源氣體的壓力)的影響。即,為了在CVD中適當(dāng)?shù)乜刂普翦儔毫Γ瑹o(wú)論如何必須正確地調(diào)節(jié)在源氣體供給裝置中的源氣體壓力。源氣體的壓力調(diào)節(jié),在需要高精度且恒定地調(diào)節(jié)蒸鍍速度時(shí)特別重要。
圖1是表示以往的源氣體供給裝置的結(jié)構(gòu)的略圖。以往的源氣體供給裝置由儲(chǔ)存氣體物質(zhì)12的源物質(zhì)蒸發(fā)部11、加熱器13、及輸運(yùn)氣體供給部14構(gòu)成。一般地,因?yàn)樵次镔|(zhì)在常溫下是以固體的粉末狀存在的,所以為了對(duì)源物質(zhì)進(jìn)行源氣體化,則必須將源物質(zhì)加熱到常溫以上。此時(shí),加熱器13起到加熱源物質(zhì)的作用。另外,源氣體因?yàn)楸戎卮蠊室苿?dòng)性小,所以利用輸運(yùn)氣體(carrier?gas)而達(dá)到源氣體順利地移動(dòng)到蒸鍍室內(nèi)。通常,作為輸運(yùn)氣體,可以使用不活潑、且使源氣體到蒸鍍室的移動(dòng)變得容易的高純度的氬、氦、氮等。
但是,在圖1中所示的以往的源氣體供給裝置中,存在因輸運(yùn)氣體的壓力而導(dǎo)致源物質(zhì)流出到外部的問(wèn)題。即,因流入源物質(zhì)蒸發(fā)部11的輸運(yùn)氣體的壓力,而導(dǎo)致源物質(zhì)12以本來(lái)的粉末狀與源氣體一起流出到源物質(zhì)蒸發(fā)部11的外部,并對(duì)化學(xué)蒸鍍工序帶來(lái)如下的不良影響。
第一,可能會(huì)引起流出的粉末狀源物質(zhì)12流入到設(shè)置在源物質(zhì)蒸發(fā)部11和蒸鍍室之間的多個(gè)閥(未圖示)而淀積、閥門(mén)堵塞的現(xiàn)象。因?yàn)橄襁@樣的閥門(mén)的堵塞引起由于閥門(mén)維護(hù)和更換的工序成本及工序時(shí)間的增加,所以成為使要整體制造的器件制造成本增加的主要因素。
第二,流出的粉末狀的源物質(zhì)12流入到蒸鍍室,結(jié)果引起使蒸鍍?cè)诨迳系谋∧の廴镜默F(xiàn)象。像這樣的薄膜的污染成為使要制造的器件的可靠性嚴(yán)重下降的主要因素。
發(fā)明內(nèi)容
因此,為了解決上述以往技術(shù)的問(wèn)題而作出本發(fā)明,其目的在于,提供一種源氣體供給裝置,能夠抑制源物質(zhì)的外部流出。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明涉及的源氣體供給裝置,在基于化學(xué)蒸鍍法的薄膜蒸鍍時(shí)使用,其特征在于,包含:源物質(zhì)蒸發(fā)部,加熱源物質(zhì)而生成源氣體;及輸運(yùn)氣體供給部,向上述源物質(zhì)蒸發(fā)部供給使上述源氣體運(yùn)輸?shù)秸翦兪业妮斶\(yùn)氣體;在上述源物質(zhì)蒸發(fā)部?jī)?nèi),設(shè)置有抑制上述源物質(zhì)通過(guò)上述輸運(yùn)氣體而移動(dòng)到上述源物質(zhì)蒸發(fā)部的外部的構(gòu)件。這里,上述抑制構(gòu)件包括向上述源物質(zhì)蒸發(fā)部?jī)?nèi)引導(dǎo)上述輸運(yùn)氣體的輸運(yùn)氣體導(dǎo)管,且上述輸運(yùn)氣體導(dǎo)管的端部?jī)?yōu)選不與源物質(zhì)相對(duì)。
另外,上述抑制構(gòu)件可以包括篩網(wǎng)或金屬板中的任一個(gè),而且也可以包括全部篩網(wǎng)及金屬板。
本發(fā)明的效果如下:
根據(jù)本發(fā)明,通過(guò)設(shè)置對(duì)因輸運(yùn)氣體而使粉末狀的源物質(zhì)向物質(zhì)蒸發(fā)部的外部的流出進(jìn)行抑制的構(gòu)件,具有減少閥門(mén)的故障以增加化學(xué)蒸鍍裝置壽命并降低設(shè)備制造成本,同時(shí)減少制造的薄膜的污染并提高設(shè)備可靠性的效果。
附圖說(shuō)明
圖1是表示以往的源氣體供給裝置的結(jié)構(gòu)的略圖。
圖2是表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式涉及的源氣體供給裝置的結(jié)構(gòu)的略圖。
圖3是表示本發(fā)明的第2實(shí)施方式涉及的源氣體供給裝置的結(jié)構(gòu)的略圖。
圖4是表示本發(fā)明的第3實(shí)施方式涉及的源氣體供給裝置的結(jié)構(gòu)的略圖。
符號(hào)說(shuō)明
21????源物質(zhì)蒸發(fā)部
22????源物質(zhì)
23????加熱器
24????輸運(yùn)氣體供給部
25????輸運(yùn)氣體導(dǎo)管
26????篩網(wǎng)
27????金屬板
具體實(shí)施方式
參照以下附圖,針對(duì)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)地說(shuō)明。
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過(guò)氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過(guò)浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無(wú)機(jī)材料為特征的
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