[發明專利]一種電替代絕對輻射計無效
| 申請號: | 200810050504.9 | 申請日: | 2008-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN101246054A | 公開(公告)日: | 2008-08-20 |
| 發明(設計)人: | 方偉;王玉鵬;葉新;弓成虎;楊東軍 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01J5/20 | 分類號: | G01J5/20 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 | 代理人: | 王淑秋 |
| 地址: | 130033吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 替代 絕對 輻射計 | ||
1、一種電替代絕對輻射計,包括熱沉,狹縫,快門,輻射吸收材料,加熱絲,其特征在于還包括襯底,熱敏電阻和低熱傳導懸掛系統;所述的襯底選用高熱導率、高絕緣性、低熱容的材料,輻射吸收材料、加熱絲、熱敏電阻分別接觸固定于襯底的表面構成主輻射探測芯片;低熱傳導懸掛系統的一端與熱沉緊密結合;主輻射探測芯片固定于低熱傳導懸掛系統的另一端。
2、根據權利要求1所述的電替代絕對輻射計,其特征在于所述的熱沉為內表面呈球形的殼體;熱沉的球形內表面拋光或鍍高反射材料;低熱傳導懸掛系統位于熱沉內,其一端與熱沉內表面緊密結合。
3、根據權利要求1所述的電替代絕對輻射計,其特征在于所述的低熱傳導懸掛系統選用絕緣、導熱率低的非金屬材料。
4、根據權利要求3所述的電替代絕對輻射計,其特征在于還包括參考輻射探測芯片;主輻射探測芯片和參考輻射探測芯片對稱放置在低熱傳導懸掛系統一端的兩側。
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