[發明專利]控制裝置、存儲裝置及存儲裝置的控制方法無效
| 申請號： | 200810001528.5 | 申請日： | 2008-01-04 |
| 公開（公告）號： | CN101256798A | 公開（公告）日： | 2008-09-03 |
| 發明（設計）人： | 增山秀和;鈴木健一朗 | 申請（專利權）人： | 富士通株式會社 |
| 主分類號： | G11B20/10 | 分類號： | G11B20/10 |
| 代理公司： | 北京三友知識產權代理有限公司 | 代理人： | 李輝;呂俊剛 |
| 地址： | 日本神奈*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 控制 裝置 存儲 方法 | ||
1、一種基于存儲在第一記錄介質或第二記錄介質中的多個控制參數來控制數據記錄或數據再現的裝置，所述裝置包括：
存儲單元，其將表示所述多個控制參數的初始值的初始參數與通過修改所述初始參數而獲得的第一更新參數相關聯地存儲在第一存儲介質中；
差檢測單元，當將第二更新參數存儲在第二存儲介質中時，該差檢測單元將所述初始參數與所述第二更新參數進行比較，并檢測作為所述初始參數與所述第二更新參數之間的差的參數；以及
初始化單元，其基于所述差檢測單元的檢測結果，對所述第一更新參數進行初始化。
2、根據權利要求1所述的裝置，其中，所述初始化單元對所述第一更新參數中的與作為所述初始參數和所述第二更新參數之間的差的參數相對應的參數進行初始化。
3、根據權利要求1所述的裝置，其中，所述初始化單元將經初始化的第一更新參數與所述初始參數相關聯地存儲在所述第一存儲裝置中。
4、根據權利要求1所述的裝置，其中，所述初始化單元將所述第二更新參數存儲在所述第一存儲介質中作為所述初始參數。
5、一種基于存儲在第一記錄介質或第二記錄介質中的多個控制參數來控制數據記錄或數據再現的方法，所述方法包括以下步驟：
將表示所述多個控制參數的初始值的初始參數與通過修改所述初始參數而獲得的第一更新參數相關聯地存儲在第一存儲介質中；
差檢測，其包括：
當將第二更新參數存儲在第二存儲介質中時，將所述初始參數與所述第二更新參數進行比較，以及
檢測作為所述初始參數與所述第二更新參數之間的差的參數；以及
基于所述差檢測的檢測結果，對所述第一更新參數進行初始化。
6、根據權利要求5所述的方法，其中，所述初始化包括對所述第一更新參數中的與作為所述初始參數和所述第二更新參數之間的差的參數相對應的參數進行初始化。
7、根據權利要求5所述的方法，其中，所述初始化包括將經初始化的第一更新參數與所述初始參數相關聯地存儲在所述第一存儲裝置中。
8、根據權利要求5所述的方法，其中，所述初始化包括將所述第二更新參數存儲在所述第一存儲介質中作為所述初始參數。
9、一種計算機可讀記錄介質，該計算機可讀記錄介質中存儲有計算機程序，該計算機程序用于基于存儲在第一記錄介質或第二記錄介質中的多個控制參數來控制數據記錄或數據再現，該計算機程序使得計算機執行以下步驟：
將表示所述多個控制參數的初始值的初始參數與通過修改所述初始參數而獲得的第一更新參數相關聯地存儲在第一存儲介質中；
差檢測，其包括：
當將第二更新參數存儲在第二存儲介質中時，將所述初始參數與所述第二更新參數進行比較，以及
檢測作為所述初始參數與所述第二更新參數之間的差的參數；以及
基于所述差檢測的檢測結果，對所述第一更新參數進行初始化。
10、根據權利要求9所述的計算機可讀記錄介質，其中，所述初始化包括對所述第一更新參數中的與作為所述初始參數和所述第二更新參數之間的差的參數相對應的參數進行初始化。
11、根據權利要求9所述的計算機可讀記錄介質，其中，所述初始化包括將經初始化的第一更新參數與所述初始參數相關聯地存儲在所述第一存儲裝置中。
12、根據權利要求9所述的計算機可讀記錄介質，其中，所述初始化包括將所述第二更新參數存儲在所述第一存儲介質中作為所述初始參數。
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