[實(shí)用新型]一種電性測(cè)試鍵無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200720310843.7 | 申請(qǐng)日： | 2007-12-20 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN201138661Y | 公開（公告）日： | 2008-10-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 孫錦華;王政烈 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 和艦科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào)： | H01L23/544 | 分類號(hào)： | H01L23/544 |
| 代理公司： | 北京連和連知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 屈小春 |
| 地址： | 215025江蘇省*** | 國(guó)省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 測(cè)試 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種電性測(cè)試鍵，其特征在于，在電性連接墊的上下兩側(cè)各放置兩條基本平行的金屬線，其中一側(cè)的兩條金屬線為裸露的平行線，另一側(cè)的兩條平行的金屬線的兩側(cè)各有一條虛設(shè)的金屬線，以保護(hù)中間的兩條金屬線不會(huì)被異常所影響。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電性測(cè)試鍵，其特征在于，所述的電性連接墊上下兩側(cè)的金屬線的間距為制程允許的最小值。
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