[發(fā)明專利]發(fā)光分析裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680056627.2 | 申請日: | 2006-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN101558291A | 公開(公告)日: | 2009-10-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 長治生 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號: | G01N21/67 | 分類號: | G01N21/67 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 李貴亮 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光 分析 裝置 | ||
1.一種發(fā)光分析裝置,具備:
放電電極,該放電電極與試料之間以規(guī)定的間隙配置;
點(diǎn)火器電路,該點(diǎn)火器電路與所述放電電極連接;
電容器,該電容器積蓄放電用的電能;和
電容器充電電路,該電容器充電電路對所述電容器充電,其特征在于:所述電容器充電電路,具備:
a)直流電源;
b)回掃變壓器,該回掃變壓器的初級線圈與所述直流電源連接,由次級線圈向所述電容器供給電能;
c)開關(guān)單元,該開關(guān)單元對由所述直流電源供給所述回掃變壓器的初級線圈的勵磁電流進(jìn)行通斷控制;
d)電流檢出單元,該電流檢出單元檢出所述勵磁電流的電流值;和
e)控制單元,該控制單元控制所述開關(guān)單元的動作,以便使所述開關(guān)單元在規(guī)定的時(shí)間間隔中,將下述接通/斷開動作反復(fù)進(jìn)行規(guī)定的次數(shù):使所述開關(guān)單元接通后,當(dāng)由所述電流檢出單元檢出的電流值達(dá)到規(guī)定值時(shí),使所述開關(guān)單元斷開。
2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光分析裝置,其特征在于:能從外部設(shè)定所述開關(guān)單元的接通/斷開動作的反復(fù)次數(shù)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的發(fā)光分析裝置,其特征在于:能從外部設(shè)定用于對斷開所述開關(guān)元件的所述勵磁電流的電流值進(jìn)行判斷的所述規(guī)定值。?
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





