[發(fā)明專利]目標(biāo)監(jiān)測方法、目標(biāo)監(jiān)測裝置以及目標(biāo)監(jiān)測程序有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680044211.9 | 申請日: | 2006-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN101317457A | 公開(公告)日: | 2008-12-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 大場良次;山下浩史;林功 | 申請(專利權(quán))人: | 大場良次;關(guān)西熱化學(xué)株式會社;株式會社山武 |
| 主分類號: | H04N7/18 | 分類號: | H04N7/18;G06T7/00;G06T1/00 |
| 代理公司: | 北京北新智誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 張衛(wèi)華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 目標(biāo) 監(jiān)測 方法 裝置 以及 程序 | ||
1.一種目標(biāo)監(jiān)測方法,該方法通過在第一時間點(diǎn)由捕獲目標(biāo)獲得的參考圖像與第二時間點(diǎn)由捕獲目標(biāo)獲得的比較圖像之間執(zhí)行比較,來監(jiān)測目標(biāo)中變化的出現(xiàn)或消失,其特征在于,該目標(biāo)監(jiān)測方法包括:
像素值修正步驟,該像素值修正步驟通過執(zhí)行計算操作來修正由被分解成多個像素的比較圖像中的多個像素形成的第一子區(qū)域中的每個像素的像素值,該計算操作使用包括第一子區(qū)域的第二子區(qū)域中的像素的像素值的平均值和變化值,以及相應(yīng)于相似分解成多個像素的參考圖像上的第二子區(qū)域的子區(qū)域中的像素值的平均值和變化值;以及
變化確定步驟,該變化確定步驟通過執(zhí)行參考圖像與由像素值修正步驟獲得的后修正比較圖像之間的比較來確定目標(biāo)中變化的出現(xiàn)或消失;
其中:
該像素值修正步驟是以如下第一方式執(zhí)行修正的步驟,該第一方式為:在比較圖像的位置(x,y)中出現(xiàn)一個像素或在位置(x,y)出現(xiàn)一套多個像素的情況下,當(dāng)x、y可變時,包括第一子區(qū)域的第二子區(qū)域的像素值的平均值和變化值分別用E1和S12表示,且相應(yīng)于參考圖像第二子區(qū)域的子區(qū)域中的像素值的平均值和變化值分別表示為E0和S02,比較圖像中位置(x,y)出現(xiàn)的像素的像素值f1(x,y)根據(jù)下面的公式(1)被修正為后修正像素值g(x,y),
或者,該像素值修正步驟是確定邊緣是否包括在第二子區(qū)域并且當(dāng)邊緣包括在第二子區(qū)域時,以如下第二方式執(zhí)行修正的步驟,該第二方式為:在比較圖像的位置(x,y)中出現(xiàn)一個像素或在位置(x,y)出現(xiàn)一套多個像素的情況下,當(dāng)x、y可變時,包括第一子區(qū)域的第二子區(qū)域的像素值的平均值和變化值分別用E1和S12表示,且相應(yīng)于參考圖像第二子區(qū)域的子區(qū)域中的像素值的平均值和變化值分別表示為E0和S02,且當(dāng)
比較圖像中位置(x,y)出現(xiàn)的像素的像素值f1(x,y)根據(jù)下面的公式(2)被修正為后修正像素值g(x,y),
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