1、一種用于確定自動(dòng)檢驗(yàn)系統(tǒng)檢驗(yàn)多個(gè)物品時(shí)的參數(shù)設(shè)定的方法，所述方法包括下列步驟：

由所述檢驗(yàn)系統(tǒng)檢驗(yàn)第一個(gè)物品；

根據(jù)所給定的一組檢驗(yàn)參數(shù)應(yīng)用一種自動(dòng)缺陷檢驗(yàn)方法；

得到一個(gè)初始缺陷圖；

根據(jù)一組預(yù)定的缺陷類型，把所發(fā)現(xiàn)的缺陷按照缺陷類型進(jìn)行分類揀選；

在對(duì)缺陷進(jìn)行分類揀選時(shí)，如果檢測(cè)到所述檢驗(yàn)系統(tǒng)不能識(shí)別的新缺陷，則把所述新缺陷添加到所述被分類揀選的初始缺陷圖中；

通過(guò)應(yīng)用計(jì)算專用算法，使用啟發(fā)式方法，自動(dòng)設(shè)置所述檢驗(yàn)參數(shù)，以形成調(diào)整后的參數(shù)設(shè)定；

使用調(diào)整后的參數(shù)設(shè)定獲得檢測(cè)到的缺陷的調(diào)整后的缺陷圖，以及

使用所述調(diào)整后的參數(shù)設(shè)定檢驗(yàn)所述多個(gè)物品中的其余物品。

2、如權(quán)利要求1所述的方法，還包括利用相同的方法來(lái)檢驗(yàn)附加的物品，以進(jìn)一步細(xì)化所述調(diào)整后的參數(shù)設(shè)定。

3、如權(quán)利要求1所述的方法，其中通過(guò)用自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)系統(tǒng)掃描所述被檢驗(yàn)的物品來(lái)實(shí)現(xiàn)檢驗(yàn)。

4、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述方法是由控制器自動(dòng)執(zhí)行的。

5、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述分類揀選是由專業(yè)操作人員手動(dòng)實(shí)現(xiàn)的。

6、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述分類揀選是利用實(shí)況視頻圖像實(shí)現(xiàn)的。

7、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述分類揀選是利用存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器元件中的圖像實(shí)現(xiàn)的。

8、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述分類揀選是在遠(yuǎn)端位置實(shí)現(xiàn)的。

9、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述初始缺陷圖是通過(guò)當(dāng)檢驗(yàn)參數(shù)被設(shè)置為表示高檢測(cè)靈敏度的數(shù)值時(shí)檢驗(yàn)所述物品而獲得的。

10、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述缺陷類型被分類為嚴(yán)重缺陷和非嚴(yán)重缺陷。

11、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述啟發(fā)式方法包括以下步驟：

對(duì)形成調(diào)整后的缺陷圖的各種參數(shù)設(shè)定進(jìn)行測(cè)試，以及

選擇能夠提供最佳檢測(cè)結(jié)果的參數(shù)組合。

12、如權(quán)利要求11所述的方法，其中至少一個(gè)所述參數(shù)設(shè)定是根據(jù)專用算法來(lái)確定的。

13、如權(quán)利要求12所述的方法，其中所述算法使用啟發(fā)式方法對(duì)經(jīng)過(guò)分類揀選后的缺陷進(jìn)行分析，以獲得調(diào)整后的參數(shù)組，其中一旦接收到所述經(jīng)過(guò)分類揀選后的缺陷圖以及一些或每個(gè)經(jīng)過(guò)分類揀選后的缺陷中的檢測(cè)參數(shù)，則設(shè)置每個(gè)參數(shù)，以得到最佳的調(diào)整后的缺陷圖。

14、如權(quán)利要求1所述的方法，其中使用專用規(guī)則來(lái)規(guī)定缺陷類型之間的所希望的比率。

15、如權(quán)利要求14所述的方法，其中所述規(guī)則被設(shè)置為獲得用來(lái)檢測(cè)調(diào)整后的缺陷圖的調(diào)整后的參數(shù)設(shè)定，這些缺陷被包括在預(yù)定缺陷類型的數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)。

16、如權(quán)利要求15所述的方法，其中使用至少一種數(shù)學(xué)和/或邏輯函數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)所述規(guī)則。

17、如權(quán)利要求16所述的方法，其中所述數(shù)學(xué)函數(shù)是成本函數(shù)。

18、如權(quán)利要求14所述的方法，其中所述規(guī)則在參數(shù)設(shè)置過(guò)程期間被細(xì)化，以得到最佳的結(jié)果。

19、如權(quán)利要求1所述的方法，其中以分層方式從幾個(gè)空間或顏色分辨率中確定至少一個(gè)所述參數(shù)設(shè)定。

20、如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述參數(shù)設(shè)定被操作以控制系統(tǒng)的所有參數(shù)。

21、一種確定用于檢驗(yàn)多個(gè)物品時(shí)的參數(shù)設(shè)定的系統(tǒng)，包括：

一檢驗(yàn)系統(tǒng)，用于檢驗(yàn)一個(gè)批次中的第一個(gè)物品，形成一個(gè)初始缺陷圖，以及一控制器，其被操作用于：

從所述檢驗(yàn)系統(tǒng)接收所述初始缺陷圖；

顯示所述初始圖中的每個(gè)所述缺陷，使得操作人員能夠根據(jù)缺陷類型對(duì)每個(gè)缺陷進(jìn)行分類揀選，并把揀選結(jié)果輸入到該系統(tǒng)中；

使用專用算法確定調(diào)整后的參數(shù)設(shè)定，以得到調(diào)整后的缺陷圖，所述調(diào)整后的缺陷圖具有真缺陷和偽缺陷之間的所希望的比率，以及

提供所述參數(shù)設(shè)定以檢驗(yàn)所述批次中的其余物品。

22、如權(quán)利要求20所述的系統(tǒng)，其中所述參數(shù)設(shè)定被操作以控制該系統(tǒng)的所有參數(shù)。