[發(fā)明專利]適用于對于待測的物體上的薄層的厚度進(jìn)行測量的測量裝置的標(biāo)定機(jī)構(gòu)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200580018528.0 | 申請日： | 2005-06-06 |
| 公開（公告）號： | CN1997868A | 公開（公告）日： | 2007-07-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | H·費(fèi)希爾 | 申請（專利權(quán)）人： | 赫爾穆特·費(fèi)希爾地產(chǎn)兩合公司 |
| 主分類號： | G01B7/06 | 分類號： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 曹若;趙辛 |
| 地址： | 德國辛*** | 國省代碼： | 德國;DE |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 適用于 對于 物體 薄層 厚度 進(jìn)行 測量 裝置 標(biāo)定 機(jī)構(gòu) | ||
【權(quán)利要求書】：
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