[其他]一種聲表面波——聲柵型射頻頻譜分析器在審
| 申請號: | 101985000000709 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85100709B | 公開(公告)日: | 1987-12-23 |
| 發明(設計)人: | 王佐卿;汪承浩;周素華 | 申請(專利權)人: | 中國科學院聲學研究所 |
| 主分類號: | 分類號: | ||
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 北京市海淀區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 表面波 聲柵型 射頻 頻譜 分析器 | ||
1、一種制作在壓電晶體上的集成聲學射頻頻譜分析器,包括有輸入叉指換能器和輸出叉指換能器陣列所組成,其特征是在輸入叉指換能器和輸出叉指換能器陣列之間有一個使聲表面波束衍射、聚焦和平移掃描的線性調頻聲柵(2)。
2、按照權利要求1所述的頻譜分析器,其特征是所說的聲柵(2)的入射角θinc為一個常數,該角度一般取值在12~20度之間。
3、按照權利要求1所說的頻譜分析器,其特征是所說的聲柵(2)的柵條方向,與所選用的壓電基片上作為聚焦聲束軸的純模軸的方向偏離一個角度,該角度的大小也正是入射角θinc。
4、按照權利要求1所說的頻譜分析器,其特征是該聲柵(2)的空間頻率是按線性規律分布的。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院聲學研究所,未經中國科學院聲學研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.17sss.com.cn/pat/books/101985000000709/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:精確測定最近障礙距離的超聲導盲眼鏡
- 下一篇:低機械品質因素壓電陶瓷材料
- 同類專利
- 專利分類





